Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
(Autor) Xiaowei Li
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Information
Editorial:
Springer Verlag, Singapore
Formato:
Paperback
Número de páginas:
None
Idioma:
en
ISBN:
9789811985539
Año de publicación:
2024
Fecha publicación:
3 de Marzo de 2024